在大尺寸顯示屏精密制造領域，屏下微圖案高度僅6–12 μm，隱藏于多層高透介質之下。精準測量這類微小段差，已成為制約出貨質量與良率提升的關鍵瓶頸。

LMI Technologies的Gocator 5500系列雙軸線共焦3D智能傳感器憑借突破性的雙軸光學設計與超高掃描速率，為多層高透介質下的微結構測量提供了計量級的高速在線解決方案。

你是否面臨以下檢測挑戰？

01、多層高透介質，傳統光學分層難

顯示屏包含三層透光率大于90%的透明介質，且各層折射率差極小。傳統光學傳感器易產生強烈的雜散光噪點，無法有效穿透并精準捕獲第三層表面的真實信號。

02、微結構尺寸極小，對比度低

目標微圖案寬度僅100 μm左右、高度差6–12 μm。在超薄高透基底上，難以對微觀形貌進行清晰重構與準確量測。

多層高透介質下的“眼睛”：Gocator 5504

LMI Gocator 5504 雙軸線共焦3D智能傳感器將突破性的雙軸光學設計與高達40 kHz的掃描速率相結合，一站式解決檢測、精度與效率難題。

采用雙軸光學設計，大幅提升信號質量與抗噪能力。即便三層介質折射率極其接近，也能準確鎖定第三層微圖案（100 μm 寬、6–12 μm 高）的物理反射點，剔除雜散光噪點，實現亞微米級3D精密檢測。

G5504 點云圖

Gocator 5504的Z軸重復性達0.07 μm，10 次靜態重復性測試下，Z 軸高度標準差穩定在0.1 μm以內，賦予大屏檢測計量級的數據穩定性。在提供計量級穩定數據的同時，超高頻率和內置GoPxL點云拼接功能，完美匹配65 cm × 30 cm大掃描視野，全面滿足大尺寸顯示屏在線檢測的嚴苛節拍要求。

關鍵圖案位置高度差

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Gocator 5500 系列打破了“大視野”與“亞微米級高精度”不可兼得的技術瓶頸，以高穩定的三維檢測能力，為智能顯示產業鏈注入了強勁的質控動能。

LMI 將持續專注于前沿 3D 視覺技術的創新與落地，賦能高端顯示及微電子領域的精密制造與良率躍升。

相約Vision China （深圳）2026

展會時間：2026年10月27日 - 29日

地點：深圳國際會展中心（寶安新館）

LMI 展位號：9F16

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400熱線：400 633 3036

郵箱：mkt_china@lmi3d.com

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