尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社（以下簡(jiǎn)稱“本公司”）將參加于2026年9月17日（周四）至 9月19日（周六）在印度新德里舉辦的半導(dǎo)體行業(yè)展會(huì)SEMICON INDIA 2026。

本屆展會(huì)是印度規(guī)模最大的半導(dǎo)體專業(yè)盛會(huì)，匯聚來(lái)自全球20個(gè)國(guó)家的500余家企業(yè)。本年度展會(huì)主題為“Transform Tomorrow: Silicon to Systems: Building the Ecosystem”，展品覆蓋半導(dǎo)體材料至系統(tǒng)級(jí)全產(chǎn)業(yè)鏈。

本公司展臺(tái)將展出依托前沿探針技術(shù)打造的探針卡，同時(shí)面向晶圓、芯片、基板、封裝等各制造工序，推出電氣檢測(cè)與外觀檢測(cè)新一代解決方案。此外，針對(duì)電動(dòng)化快速發(fā)展的汽車行業(yè)，我們同步展出可實(shí)現(xiàn)性能評(píng)估與耐久測(cè)試高效化的TDAS系列（電機(jī)/E-Axle測(cè)試臺(tái)），以及面向電動(dòng)汽車整車設(shè)計(jì)與分析仿真的軟件E-Transport Simulator?。

〈參展概要〉

?展期：2026年9月17日(周四)～9月19日(周六)

?展館：Yashobhoomi（印度國(guó)際會(huì)議展覽中心）

?展位：H4305, Hall 2

〈展出產(chǎn)品〉

- STAR REC系列（服務(wù)器、通信、車載產(chǎn)品、電腦、智能手機(jī)基板檢測(cè)設(shè)備）

- GATS系列（半導(dǎo)體封裝自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備）

- NATS系列（IGBT/SiC模塊絕緣/靜態(tài)特性/動(dòng)態(tài)特性檢測(cè)設(shè)備）

- RWi-300MK3（2D/3D晶圓凸點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備）

- AURCA系列（3D/AFVI AI視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)）

- RSH系列（適配高密度基板的2D/3D檢測(cè)設(shè)備）

- 高精度檢測(cè)治具

- TDAS系列(電機(jī)/E-Axle測(cè)試臺(tái))

- E-Transport Simulator? (xEV整車建模仿真軟件)

- 探針卡（半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)用）